Nanometrologie - Fortschritte bei der Messung und Charakterisierung im Nanobereich
Fouad Sabry
Traductor Daniel Hueber
Editorial: Eine Milliarde Sachkundig [German]
Sinopsis
Nanometrologie-Dieses Kapitel führt in die grundlegenden Konzepte der Nanometrologie ein und konzentriert sich auf Präzisionsmesstechniken, die für die Untersuchung von Nanomaterialien unerlässlich sind. In-situ-Elektronenmikroskopie-Erfahren Sie, wie die Elektronenmikroskopie die Echtzeitbeobachtung von Nanomaterialien unter verschiedenen Bedingungen ermöglicht und wichtige Erkenntnisse zu deren Struktur und Verhalten liefert. Rasterkraftmikroskopie-Entdecken Sie, wie die Rasterkraftmikroskopie (AFM) hochdetaillierte, dreidimensionale Bilder im Nanobereich liefert, die für die Untersuchung von Materialoberflächen von entscheidender Bedeutung sind. Nanotechnologie-Ein tiefer Einblick in die weitreichenden Auswirkungen der Nanotechnologie, ihre Rolle in Branchen wie Medizin, Energie und Fertigung sowie ihr transformatives Potenzial. Sondenspitze-Dieses Kapitel befasst sich eingehend mit der Technologie der Rasterkraftmikroskopie und betont die Bedeutung von Sondenspitzen für die Bildgebung und Manipulation im Nanobereich. Molekulare Gießerei-Lernen Sie die Molekulare Gießerei kennen, ein Zentrum für die Herstellung und Charakterisierung fortschrittlicher Nanostrukturen, und heben Sie ihre Rolle für Innovationen hervor. Merkmalsorientiertes Scannen-Erfahren Sie mehr über Techniken zur Analyse spezifischer Merkmale von Nanomaterialien, um die Genauigkeit von Messungen und Strukturcharakterisierungen zu verbessern. Produktive Nanosysteme-Verstehen Sie die Produktionsprozesse von Nanosystemen und konzentrieren Sie sich dabei auf ihre Skalierbarkeit und Anwendbarkeit bei der Herstellung von Hochleistungsmaterialien. Nanomaterialien-Dieses Kapitel untersucht verschiedene Arten von Nanomaterialien, ihre Synthese und Anwendungen in Bereichen von der Elektronik bis zur Biomedizin. Charakterisierung von Nanopartikeln-Lernen Sie die wichtigsten Methoden zur Charakterisierung von Nanopartikeln kennen, die für das Verständnis ihrer einzigartigen Eigenschaften und Wechselwirkungen unerlässlich sind. Rastertunnelmikroskopie mit mehreren Spitzen-Eine spezielle Form der Mikroskopie, die die gleichzeitige, hochauflösende Abbildung und Manipulation von Nanostrukturen ermöglicht. Schwingungsanalyse mit Rastersondenmikroskopie-Erfahren Sie, wie die Schwingungsanalyse mittels Rastersondenmikroskopie zur Identifizierung von Materialeigenschaften und -verhalten auf atomarer Ebene beiträgt. Molekulare Nanotechnologie-Dieses Kapitel untersucht, wie molekulare Nanotechnologie die Entwicklung molekularer Maschinen ermöglicht und so neue Wege in Medizin, Informatik und Fertigung eröffnet. Rastersondenmikroskopie-Erhalten Sie Einblicke in die Rastersondenmikroskopie, einen Eckpfeiler der Nanometrologie, der eine beispiellose Präzision in der Bildgebung und Materialanalyse bietet. TSOM-Entdecken Sie die Fortschritte der spitzenverstärkten Spektroskopie (TSOM) und konzentrieren Sie sich dabei auf ihre Fähigkeit, die Auflösung zu verbessern und tiefere Einblicke in Nanostrukturen zu ermöglichen. Elektronenstrahlinduzierte Deposition-Erfahren Sie, wie die elektronenstrahlinduzierte Deposition zur hochpräzisen Herstellung von Nanomaterialien eingesetzt wird, die für die Herstellung von Bauelementen unerlässlich ist. Nanolineal-Dieses Kapitel befasst sich mit der Entwicklung und Anwendung von Nanolinealen, die wichtige Werkzeuge für die hochpräzise Messung von Nanoobjekten sind. Profilometer-Erfahren Sie, wie Profilometer zur Messung der Oberflächentopographie von Nanomaterialien eingesetzt werden und so die Qualitätskontrolle und Forschung unterstützen. Nanomechanik-Erkunden Sie die mechanischen Eigenschaften von Nanomaterialien, die für die Entwicklung von Nanobauelementen und das Verständnis ihres Verhaltens unter Belastung unerlässlich sind.
Disponible desde: 20/03/2025.
Longitud de impresión: 269 páginas.
